製品情報

インサイト株式会社は最新のデジタル技術と世界有数の研究機関や先端機器メーカーとの連携で非破壊検査・計測・診断用装置販売、システムインテグレーションおよび各種アプリケーション開発を提供します。

新着情報

JPCA2010　第４０回国際電子回路産業展に出展します．ブースNo. ４Ｌ－２６
最新型光投影式３次元ゆがみ・ひずみ計測解析装置ＴＤＭ－ＩＣを展示します．
　　

イベントスケジュール

  • 先進材料・非破壊計測技術
    シンポジウム　
    2009.3.24 - 25
  • 第7回NDE国際会議　
    2009.5.12 - 14
  • 非破壊評価総合展2009
    2009.11.18 - 20
  • 第４０回国際電子回路産業展　
    2010.6.2 - 4